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TPS 2500 S Dual
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薄膜模块
  Thin Film测试模块用于单层薄膜样品如织物、高聚物薄膜、陶瓷薄膜、纤维材料、纸和陶瓷上的溅射金属涂层等材料的导热系数测试。测试时,探头被放置于两片样品和导热性能良好的背景材料之间。测量时,根据薄膜材料的接触热阻的数据计算得到样品的导热系数。
 
      设备配置
  Hot Disk Thin Film软件
  皂石(背景材料)
  不锈钢片和绝缘皿(背景材料)

  技术指标
  导热系数: 0.005 – 10 W/mK
  温度: -30 to 230°C
  测试时间: 10 – 40 s,根据背景材料性质
  重复性: < 3%
  样品厚度: 0.01-2 mm  
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