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| 薄膜模块 |
Thin Film测试模块用于单层薄膜样品如织物、高聚物薄膜、陶瓷薄膜、纤维材料、纸和陶瓷上的溅射金属涂层等材料的导热系数测试。测试时，探头被放置于两片样品和导热性能良好的背景材料之间。测量时，根据薄膜材料的接触热阻的数据计算得到样品的导热系数。
设备配置：
Hot Disk Thin Film软件
皂石（背景材料）
不锈钢片和绝缘皿（背景材料）
技术指标：
导热系数: 0.005 – 10 W/mK
温度: -30 to 230°C
测试时间: 10 – 40 s，根据背景材料性质
重复性: < 3%
样品厚度: 0.01-2 mm
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